Технологии ·

Новый метод выявит скрытые дефекты деталей по микрорельефу поверхности

Учёные разработали метод определения технологического маршрута изготовления детали по микрорельефу

Новый метод выявит скрытые дефекты деталей по микрорельефу поверхности
Изображение: Российский научный фонд

Методика опирается на непрерывное вейвлет-преобразование — математический аппарат, который раскладывает профиль поверхности одновременно по пространственным координатам и масштабам неровностей. Это позволяет обнаружить следы предшествующих этапов механической обработки, замаскированные финишными операциями. Результаты исследования опубликованы в журнале Metals (MDPI).

Эксперимент подтвердил эффективность подхода: две детали из нержавеющей стали 12Х18Н10Т после разных технологических цепочек имели одинаковую шероховатость (Ra = 0,22 мкм), но новый метод показал, что показатель скрытой нерегулярности микрорельефа одной из деталей в 20 раз выше. Выявленные следы грубого чернового точения могут снижать усталостную прочность и износостойкость изделия.

Алгоритм оптимизирован для практики: анализ профиля занимает менее 0,5 секунды. Метод можно внедрить в автоматизированные линии контроля на производстве — это поможет проверять «технологическую чистоту» деталей и снижать риск брака в критически важных компонентах двигателей и механизмов.

Источник: Российский научный фонд

Читайте также